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銀漿Silver Paste高度測(cè)試儀/銀漿爬坡45度測(cè)量顯微鏡/銀漿高度測(cè)量系統(tǒng)/銀漿爬坡檢測(cè)儀/斜視測(cè)量?jī)x
全新二代銀漿（爬膠）高度測(cè)量?jī)xMT-F2000集多項(xiàng)**于一身，從外觀到性能都緊跟國(guó)際**設(shè)計(jì)風(fēng)向，致力于拓展工業(yè)領(lǐng)域新格局。秉承不斷探索、不斷超越的品牌設(shè)計(jì)理念，為客戶提供完善的工業(yè)檢測(cè)解決方案。
銀漿（爬膠）高度45度檢測(cè)系統(tǒng)是半導(dǎo)體銀漿silver paste高度專業(yè)檢測(cè)儀器，也稱之為銀漿厚度檢測(cè)儀；在半導(dǎo)體芯片加工中，需要對(duì)芯片die中的晶圓wafe進(jìn)行銀漿固定，這就需要對(duì)固定工藝進(jìn)行檢測(cè)，已判斷銀漿的高度或厚度是否達(dá)到指定的技術(shù)指標(biāo)；此系列檢測(cè)儀是此工藝專業(yè)檢測(cè)儀器，通過(guò)顯微鏡非接觸圖像識(shí)別的方式進(jìn)行觀察及量測(cè)，配專業(yè)相機(jī)、軟件及固定治具；快速有效的檢測(cè)此工藝技術(shù)指標(biāo)。
MT-F2000系列爬膠高度測(cè)量?jī)x主要用于半導(dǎo)體、led 封裝行業(yè)，上芯后銀漿爬芯的高度，銀漿溢出（Fillet Height）以及占比的測(cè)量。通過(guò)軟件軟體功能提供客制化相關(guān)檢測(cè)項(xiàng)目、檢測(cè)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、檢索和管理。
MT-F2000系列爬膠高度測(cè)量?jī)x，采用歐米特上等光學(xué)系統(tǒng)，具有低畸變，高分辨率，大景深，市場(chǎng)寬大且平坦，齊焦性好等特點(diǎn)，設(shè)計(jì)新穎，操作簡(jiǎn)便。可手動(dòng)切換觀察角度，觀察工作距離高達(dá)82mm，方便取放產(chǎn)品。
MT-F2000系列爬膠高度測(cè)量?jī)x，全程齊焦，圖像清晰，40-270倍連續(xù)變倍。
MT-F2000系列爬膠高度測(cè)量?jī)x擁有人性化的操作體驗(yàn)，用戶在調(diào)焦和變倍過(guò)程中，可將手肘完全放在工作臺(tái)上，優(yōu)化操作手感。
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型號(hào) |
OMT-F2000配置 |
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光學(xué)系統(tǒng) |
2D齊焦齊心定格定倍光學(xué)系統(tǒng) |
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光學(xué)放大倍數(shù) |
0.7倍-4.5倍 |
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數(shù)碼放大倍數(shù) |
40倍-270倍（23.8寸顯示器） |
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高清 圖像處理系統(tǒng) |
1200萬(wàn)1/2寸彩色索尼工業(yè)芯片，高靈敏度、低噪聲SENSOR，性能強(qiáng)大，預(yù)覽流暢； |
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像元尺寸：3.75um*3.75um/數(shù)據(jù)位數(shù)：12bit 逐行曝光 |
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分辨率：4000*3000 |
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輸出接口 |
USB3.0數(shù)據(jù)輸出接口 |
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拍照 |
拍照（鼠標(biāo)拍照存儲(chǔ)在U盤(pán)） |
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測(cè)量 |
全新測(cè)量系統(tǒng) |
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觀察角度 |
45度 |
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光源 |
OMT-60X長(zhǎng)壽命可調(diào)亮度LED光源 |
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夾式可調(diào)LED冷光源，單顆射燈 |
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支架 |
8英寸載物臺(tái)，平臺(tái)面積 300*270mm，移動(dòng)行程：200mmX200mm機(jī)械平臺(tái)，X、Y方向同軸調(diào)節(jié)； |
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8英寸平臺(tái)，平臺(tái)面積 525*330mm，移動(dòng)行程：210mmX210mm機(jī)械平臺(tái)，X、Y方向同軸調(diào)節(jié)；含快速移動(dòng)裝置（型號(hào)：MT-F2000-PRO） |
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電腦 |
主流品牌臺(tái)式電腦主機(jī) |
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顯示器 |
23.8寸高清HDMI液晶顯示器分辨率1920*1080 |
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標(biāo)尺 |
高精度型測(cè)微尺，格值0.01mm |